Реферат

На основе анализа точности и технологии изготовления пленки с оптической текстурой с текстурой треугольной пирамиды были определены технические требования к исходной пресс-форме, и для обработки исходной пресс-формы была принята технология планирования точного формования. Погрешность формы формы оптической текстуры треугольной пирамиды оценивалась путем определения отношения площадей ретроотражения. Было проанализировано влияние радиуса вершины инструмента и выходного заусенца на коэффициент площади световозвращения.Путем оптимизации режущих инструментов, режущих материалов и границ разреза была использована пятиосевая сверхточная система обработки для планирования структуры треугольной пирамиды с длиной основания 115 мкм и углом между двумя сторонами 70,5 °. Результаты экспериментов показывают, что погрешность измерения элемента треугольной пирамиды составляет менее 1 мкм, угловая погрешность включенного угла между двумя сторонами составляет менее 0,05 °, а средняя шероховатость стороны треугольной пирамиды может достигать 9.2 нм, что удовлетворяет требованиям качества обработки формы для текстуры треугольной пирамиды.

Ключевые слова: оптическая функциональная текстурная пленка , соотношение площадей световозвращения, текстура треугольной пирамиды, форма светоулавливающей пленки

1. Введение

Оптическая функциональная текстурная пленка — это поверхностная пленка с микрочипами, которая может изменять путь распространение света [1]. Обладая исключительной светопроводимостью и функцией самоочистки, эта текстурная пленка привлекла внимание многих исследователей.С усовершенствованием технологии сверхточной обработки подготовка оптической функциональной текстуры поверхностей стала популярной темой исследований в области прецизионной обработки. Существует два класса методов изготовления пленки с оптической функциональной текстурой. Один из методов включает прямую подготовку оптической функциональной текстуры на поверхности детали с помощью таких технологий, как плазменное травление [2] и литография [3]. Другой — получение оптической функциональной текстуры с помощью технологии тиснения, такой как горячее тиснение [4,5] и ультрафиолетовое (УФ) тиснение [6,7].В 2015 году Рахман [8] и соавт. опубликовано в Nature Communications, что три типа наноразмерных конусообразных светозахватывающих структур были приготовлены непосредственно на поверхности тонкой пленки из полиметилметакрилата (ПММА) посредством плазменного травления. Коническая текстура захвата света варьировалась от 10 до 70 нм в диаметре, а скорость поглощения света ячейками из гладкого кристалла кремния была улучшена. Diao et al. [9] получали микрорельефные наноструктуры с высоким пропусканием и антиотражением на оптических подложках с помощью литографии блок-сополимерных мицелл (BCML) и реактивного ионного травления.Ионное травление или фотолитография могут использоваться для непосредственной подготовки оптической функциональной текстуры с высоким качеством поверхности и точностью обработки. Однако эти методы демонстрируют сложную обработку с низкой эффективностью обработки и высокими производственными затратами; таким образом, они непригодны для массового производства и остались только в стадии экспериментальных исследований.

Оптическая функциональная текстурированная пленка была изготовлена ​​с использованием технологии тиснения. Сначала обрабатывалась пресс-форма с текстурой, а затем фактура пресс-формы была тиснена на поверхности оптической пленки [10].Этот метод отличается высокой производительностью и низкими производственными затратами и может применяться в массовом производстве. По микроструктурным размерам текстуры пресс-формы текстуру можно разделить на наноотпечатки и микротипы. Микроструктура поверхности наноотпечатка находится в наномасштабе. Трудно обеспечить целостность микроструктуры поверхности в процессе репликации наноотпечатка; таким образом, будут затронуты оптические свойства оптической функциональной текстуры.Оптические функциональные микроструктуры в масштабе микрометра обладают высокой точностью и обычно используются во всех типах светозахватывающих и отражающих пленок. Zhang et al. [11] обработали высокоточную текстуру линзы Френеля на цилиндрической поверхности роликовой фильеры и реплицировали матрицу линз Френеля на поверхности полиэтилентерефталатной (ПЭТ) пленки с помощью метода УФ-тиснения для получения высокоточной концентрированной функциональной текстуры поверхности. . Jiang et al. [12] реплицировали голографические изображения на высокоточной валковой фильере на поверхность двуосно-ориентированной полипропиленовой (БОПП) пленки на большой площади посредством горячего тиснения и получили текстуру дифракционной решетки с превосходной точностью.

Для получения улучшенных оптических свойств требуется высокая точность пленки с текстурой поверхности, а основная технология, использующая процесс тиснения, используется для изготовления высокоточной формы для тиснения [13]. Сверхточная резка алмазным инструментом позволяет получать микроструктурные поверхности со значениями шероховатости менее 10 нм [14]. Brinksmeier et al. [15] предложили метод алмазного микрошлифования (DMC) для обработки угловых массивов шестиугольных кубов с размером структуры 100 мкм на поверхности никелированной формы, при этом шероховатость боковой поверхности достигала S a = 3 нм, что соответствует требованиям требования к качеству зеркального отражения.Kim et al. [16] использовали монокристаллический алмазный инструмент для изготовления массива микропирамид высотой 25 мкм от поверхности формы с медным покрытием, а его поперечная шероховатость достигала 14,8 нм.

Ученые провели исследования оптических функциональных структур в субволновых и субмиллиметровых масштабах. Используя волновую теорию светового анализа, можно сделать вывод, что композитные оптические функциональные структуры в субволновом диапазоне могут снижать показатель преломления тонкопленочных материалов, тем самым уменьшая потери на отражение солнечных элементов [17].Рахман и др. [8] ламинировал слой плоской пленки на поверхность кристаллического кремния, а затем обработал тонкую коническую текстуру высотой 5 нм на плоской пленке с помощью сверхточного метода ионного травления, который снижает потери на отражение кристаллической композитной структуры. кремниевые элементы ниже 1%. Однако площадь прототипа составляет всего 0,5 см ² из-за непомерно высокой стоимости. В настоящее время все еще трудно получить оптические функциональные текстурированные пленки большой площади с использованием техники ионного травления.Кроме того, технология наноэмбоссинга позволяет изготавливать наноразмерные оптические функциональные текстурированные пленки на большой площади, но изготовленная композитная слоистая структура из ячеек из кристаллического кремния обеспечивает лишь посредственные световые характеристики из-за низкой точности изготовления структуры. Han et al. [18] ламинировали пленки с текстурой ПВХ на гладкую поверхность ячеек из кристаллического кремния с помощью метода горячего тиснения, который снизил потери на отражение в ячейках из кристаллического кремния с 30% до примерно 15%.Amalathas et al. [19] изготовили регулярную перевернутую пирамидальную текстурированную пленку на гладкой поверхности ячеек кристаллического кремния на наноуровне, используя технику тиснения с ультрафиолетовым (УФ) отпечатком, которая снизила потери на отражение для ячеек с гладкой поверхностью кристаллического кремния примерно до 14%.

Основываясь на анализе геометрической оптики, световые функциональные текстурированные пленки субмиллиметрового масштаба могут эффективно снизить потери на отражение в солнечных элементах. Dottermusch [20] et al. подготовили конические текстуры субмиллиметрового размера на монокристаллических кремниевых солнечных элементах, которые могут снизить потери на отражение примерно до 8%.Наше предыдущее исследование [21] также показало, что путем ламинирования оптической функциональной текстурной пленки субмиллиметрового размера на ячейку из кристаллического кремния с гладкой поверхностью, как показано на рисунке, потери на отражение в ячейке могут быть уменьшены до 13%. Процесс тиснения может использоваться для получения оптических функционально текстурированных пленок субмиллиметрового масштаба с большой площадью и низкой стоимостью, а точность размеров и качество поверхности субмиллиметровых микроструктур можно лучше контролировать. Приготовленные пленки обладают хорошими оптическими свойствами.

Композитная ламинатная структура.

Точность обработки оригинальной мастер-формы имеет большое влияние на оптические характеристики световой функциональной текстурированной пленки субмиллиметрового диапазона. Это эффективный метод повышения точности обработки пресс-формы для дальнейшего снижения отражательной способности световой функциональной текстурированной пленки. В этой статье исследуется, как повысить точность обработки пресс-формы, и анализируется влияние точности обработки на характеристики легкой функциональной текстурированной пленки.

Нововведения в этой статье можно резюмировать следующим образом: (1) исследовано влияние сверхточных параметров обработки микроструктур микрометрового масштаба на точность исходной пресс-формы; (2) новый параметр определен для оценки влияния ошибок обработки на характеристики оптических функциональных текстурированных пленок.

В этой статье, в соответствии с техническими требованиями к светоулавливающей пленке с треугольной пирамидой, была сформулирована точность обработки исходной формы для светоулавливающей пленки (LTF).Экспериментально изучалось влияние режущих инструментов и параметров резки на качество исходной формы. Отношение площадей световозвращения использовалось для анализа влияния радиуса вершины инструмента и выходного заусенца на эффективную оптическую функциональную площадь текстурированной пленки, что заложило основу для последующего изготовления светофункциональной текстурированной пленки с высокими эксплуатационными характеристиками.

2. Технические требования к световозвращающей текстуре треугольной пирамиды

2.1. Оптическая функциональная текстурированная пленка для улавливания света

Улавливающая свет пленка может улучшить скорость поглощения своих композитных устройств за счет изменения микроструктуры ее поверхности. Когда свет попадает на верхнюю поверхность текстуры треугольной пирамиды, он может несколько раз преломляться в пленку, тем самым улучшая ее пропускание. Когда свет падает из-под поверхности текстурной пленки треугольной пирамиды, он будет отражаться от внутренней поверхности треугольной пирамиды несколько раз, так что свет может отражаться в обратном направлении параллельно.Чтобы изучить, как улучшить скорость поглощения кристаллических кремниевых ячеек, исследовательская группа [21] предложила микромасштабную треугольную пирамидальную пленку-ловушку и оптимизировала ее структурные параметры, как показано на рис. Текстурная пленка, улавливающая свет, является основным элементом двух симметричных пирамидальных структур. Индивидуальная прямоугольная структура пирамиды — это нижняя сторона трех сторон треугольной пирамиды равнобедренного треугольника. Одиночная пирамидальная структура представляет собой треугольную пирамиду, основание которой представляет собой равносторонний треугольник, а три стороны — равнобедренные треугольники, а параметры микроструктуры ее поверхности треугольной пирамиды следующие: нижняя сторона a = 115 мкм, и угол между двумя сторонами β = 70.5. Для предотвращения диффузного отражения света от поверхности оптической функциональной текстуры шероховатость боковой поверхности микротреугольной пирамиды должна быть менее 20 нм.

Модель микроструктуры треугольной пирамиды.

2.2. Форма для светозащитной пленки

2.2.1. Точность размера и поверхности

Технология тиснения может использоваться для тиснения оптической функциональной текстуры на поверхности пленки с высоким коэффициентом пропускания. Процесс тиснения выглядит следующим образом: (1) исходная форма с положительной текстурой пирамиды изготавливается с помощью технологии сверхточной обработки; (2) затем с помощью прецизионных процессов гальванопластики готовят рабочую форму для воспроизведения текстуры перевернутой пирамиды [22]; и (3) наконец, на поверхности выделенной светопропускающей пленки получают текстуру положительной пирамиды посредством горячего тиснения или УФ-тиснения.Поскольку различные ошибки исходной пресс-формы напрямую передаются на оптическую функциональную текстурную пленку, предъявляются высокие требования к точности обработки исходной пресс-формы [23,24,25]. В зависимости от точности размеров и шероховатости поверхности световозвращающей пленки в сочетании с точностью гальванопластики и тиснения размер и точность поверхности микротреугольной пирамиды формы определяется следующим образом: нижняя сторона a = 115 ± 3 мкм, угол между двумя сторонами составляет α = 70.5 ° ± 0,05 °, шероховатость поверхности составляет Ra = 10 нм, а отклонение размеров менее 3%. Для достижения такого высокого качества обработки процесс формования может эффективно дублировать форму фрезы и обеспечивать точность размеров готового продукта.

2.2.2. Точность формы

При резке формы с текстурой треугольной пирамиды, поскольку закругленные углы режущей кромки инструмента образуют дугообразный переход в нижней части треугольной пирамиды, а на краю треугольной пирамиды во время обработки будет образовываться заусенец, эти ошибки формы будут скопированы на светулавливающую пленку с треугольной пирамидой, что повлияет на эффективную оптическую функциональную область текстурной пленки треугольной пирамиды.Как показано на a, область тени нижней части единичной текстуры пресс-формы и ортогональная проекция краев являются недопустимыми оптическими функциональными областями, а ширина выступа заусенцев края треугольной пирамиды составляет W _b . b показывает, что радиус дуги r _ε кромки инструмента является недействительной областью дуги EF . k _s определяется как отношение эффективной оптической функциональной площади проекции треугольной пирамиды элемента к площади основания треугольной пирамиды, т.е.е., к _S есть,

ks = 1-∑i = 13nai × rεcosα2 + 33 × ∑i = 13nai3n × ∑i3nWbi3n4 (∑i = 13nai3n) 2

(1)

где r _ε — радиус вершины инструмента, α — угол между двумя сторонами, W _b — ширина выступа треугольной кромочной фрезы, a — длина дна устройства треугольная пирамида, а n — количество треугольных пирамид.

Недопустимая область обратного отражения: ( a ) Принципиальная схема недопустимой области световозвращения, ( b ) недопустимая область впадины

3.Эксперимент по вырезанию пресс-формы

3.1. Оборудование и режущие инструменты

Чтобы избежать ошибок обработки, вызванных изменением глубины резания инструмента, используется 5-осевая сверхточная система обработки (Moore Nanotech 350F, Moore Nanotechnology Systems Ltd., Swanzey, NH, USA). принят как формообразующий метод планирования. Его точность повторного позиционирования составляет 0,3 мкм, и ошибка позиционирования мало влияет на размер треугольной пирамиды. Как показано на a, заготовка устанавливается на вакуумный зажим оси Z, а алмазный инструмент с большим радиусом вершины инструмента и малым радиусом вершины инструмента зажимается слева и справа в держателе инструмента соответственно. .Базовая плоскость текстуры вырезается алмазным инструментом с огромным радиусом дуги на вершине, чтобы устранить ошибку базовой плоскости, вызванную установкой. После получения исходной плоскости чистовой обработки резцедержатель поворачивается на 180 ° вокруг оси B, вершина алмазного инструмента, обработанная с V-образной канавкой, совмещается с базовой плоскостью заготовки, а основное движение резания выполняется по оси Y. Шагая по оси Z держателя инструмента, реализуется шаговое движение глубокой подачи каждой V-образной канавки.Шаговое движение по оси X может создавать все параллельные V-образные канавки в направлении C1 на поверхности заготовки. Как показано на b, когда все V-образные канавки в направлении C1 обработаны, заготовка поворачивается на 60 ° вокруг оси C для обработки V-образных канавок в направлении C2. Когда все V-образные канавки в направлении C2 обработаны, а V-образные канавки в направлении C3 обработаны путем поворота на -120 ° вокруг V-оси, может быть сгенерирована полная структура треугольной пирамиды. Установив алмазный инструмент до эксперимента, вершина инструмента в трех направлениях резания может почти пересекаться в одной точке, и ошибка может соответствовать точности обработки текстуры треугольной пирамиды.

Сверхточная монокристаллическая алмазная режущая система: ( a ) Режим зажима заготовки и инструмента, ( b ) направление подачи.

Метод формовки используется для точного планирования. Угол вершины инструмента планирования формовки такой же, как и угол между двумя сторонами текстуры треугольной пирамиды. Выбор переднего угла инструмента равным 0 ° может уменьшить влияние формы инструмента на точность формы метода формования.При тонкой обработке радиус кромки инструмента имеет большое влияние на качество обработки [26]. Исследования Wu et al. [27] показали, что высота заусенца увеличивается с увеличением радиуса кромки инструмента. В зависимости от прочности и скорости износа инструмента радиус режущей кромки острого алмазного инструмента составляет 0,1 мкм. Точность формующей поверхности можно повысить за счет сверхточной шлифовки алмазной режущей кромки. Увеличение радиуса вершины инструмента приведет к увеличению площади переходной зоны дуги, тем самым влияя на коэффициент площади световозвращения исходной формы.Принимая во внимание скорость износа вершины алмазного инструмента, радиус вершины инструмента выбран равным 0,1 мкм. Геометрические параметры инструмента планирования формовки приведены в.

Таблица 1

Параметры геометрии инструмента.

Для повышения точности поверхности формы треугольной пирамидальной текстуры в качестве материала инструмента выбран монокристаллический алмаз. Материал заготовки состоит из латуни, которая включает 60% меди (Cu), 0,7% олова (Sn) и 39,3% цинка (Zn), и его физические свойства приведены в. Размер заготовки 20 мм × 20 мм × 40 мм. Коэффициент трения между алмазным инструментом и латунью и = 0,2 был измерен посредством испытания на трение.Во время процесса резки в верхней части алмазного инструмента используется распылительное охлаждение для отвода тепла резания, образующегося в процессе обработки, и включается система кондиционирования воздуха системы обработки для поддержания температуры окружающей среды резания в пределах ± 0,1 ° C для предотвращения термической деформации.

Таблица 2

Характеристики материала инструмента и заготовки.

Максимальная скорость перемещения по оси Y выбранной 5-осевой сверхточной системы обработки составляет 1500 мм / мин, а скорость резания составляет 1000 мм / мин, учитывая стабильность и флаттер станок и другие факторы.Согласно продавцу [28], выражение основной силы резания может быть получено из уравнения (2),

Fy = τsawdccos (βe − γ) sinϕcos (ϕ + βe − γ)

(2)

где τ _s — напряжение сдвига, a _w — ширина резания, d _c — толщина неразрезанной стружки, β _e — угол трения, γ — передний угол, а Φ — угол сдвига.

Глубина резания по оси Z была уменьшена с использованием шагового резания, как показано на.В случаях других параметров резания, с увеличением толщины необрезанной стружки dc , основная сила резания и высота заусенцев постепенно увеличиваются [29]. Учитывая, что радиус вершины алмазного инструмента и радиус режущей кромки составляют 0,1 мкм, основная сила резания велика, что может вызвать микроскопические трещины на инструменте. По формуле (2) рассчитано, что толщина неразрезанной стружки dc не должна превышать 6 мкм. В соответствии с углом между двумя сторонами единичной треугольной пирамиды глубина ступени ΔZ1 инструмента вдоль оси Z во время черновой обработки составляет 10 мкм.При чистовой обработке глубина резания уменьшается, качество поверхности лучше, а размер заусенцев меньше. Однако при дальнейшем уменьшении глубины резания процесс резания меняется на вспашку, стружка не образуется, а качество поверхности ухудшается [27]. При постоянной глубине резания, чем меньше скорость резания, тем больше деформация сдвига ε , и более вероятно возникновение вспашки [30].

Пошаговое резание по оси Z: ( a ) Схема вырезания V-образной канавки, ( b ) Шаговая глубокая подача.

Чтобы избежать ухудшения качества поверхности, вызванного вспашкой, были проведены испытания ортогонального резания при различной толщине неразрезанной стружки, и наблюдались явления вспашки. Сделан вывод, что явление вспашки начинается, когда толщина неразрезанной стружки dc начинается с 1 мкм, и шероховатость поверхности начинает ухудшаться. Глубина ступени ΔZ2 чистового инструмента по оси Z составляет 2 мкм. В зависимости от длины нижнего края треугольной пирамиды и угла между двумя сторонами, высота треугольной пирамиды равна 47.2 мкм. Для каждой V-образной канавки глубина шага инструмента по оси Z составляет 10 мкм, 10 мкм, 10 мкм, 10 мкм, 5,2 мкм и 2 мкм.

3.3. Контроль качества пресс-формы

3.3.1. Шероховатость поверхности

Шероховатость поверхности формы с треугольной пирамидальной текстурой напрямую влияет на оптическую функцию световозвращающей пленки. Профилометр со щупом Mitutoyo Formtracer c-5000 (Mitutoyo, Kawasaki, Япония) использовали для измерения шероховатости Ra поверхности треугольной пирамидальной формы.Как показано на рисунке a, обрабатываемая деталь устанавливается на поворотном столе, и обрабатываемая деталь размещается под наклоном, чтобы гарантировать, что сторона треугольной пирамиды находится в горизонтальном положении, тем самым уменьшая ошибку измерения шероховатости. Для оценки качества поверхности блока треугольной пирамидальной текстуры в разное время обработки в качестве области выборки выбираются три различных положения, как показано на b: область врезки алмазным инструментом 1, средняя выемка 2 и режущая кромка алмазным резцом. из области 3.Как показано на c, каждая из областей выборки измеряет шесть единиц треугольной пирамиды, и каждая единица пирамиды измеряет значения шероховатости поверхности средней и нижней частей трех сторон. Кривая шероховатости, полученная на типичной стороне, показана на d. Шероховатость поверхности Ra до 8 нм. Шероховатость, измеренная на 54 сторонах, усредняется, как указано в, и средняя шероховатость поверхности Ra составляет до 9,2 нм, что соответствует требованиям к шероховатости поверхности исходной формы.

Шероховатость поверхности, измеренная профилометром щупа: ( a ) Условия измерения, ( b ) область измерения, ( c ) позиция измерения, ( d ) значение шероховатости.

Таблица 3

Измерение размера и шероховатости микроструктуры треугольной пирамиды.

3.3.2. Точность размеров

Микроструктура треугольной пирамиды была измерена с помощью лазерной сканирующей конфокальной микроскопии (VK-X100K, KEYENCE, Осака, Япония).Длина нижнего края 18 треугольных пирамид и высота 6 треугольных пирамид были измерены в области отбора проб в трех точках b. В процессе резки формы из-за пластической деформации материала и наличия ошибок обработки обрабатываемая оптическая функциональная текстура не идеальна. Часто встречаются дефекты, такие как заусенцы и деформации, и цель данной статьи — минимизировать эти дефекты. Среднее значение и отклонение были рассчитаны, как указано в.Можно сделать вывод, что погрешность размера микроструктуры треугольной пирамиды составляет приблизительно 1 мкм, максимальное отклонение размеров составляет всего 2,82% (менее требуемых 3%), а угол наклона между двумя сторонами в трех направлениях составляет менее 0,05 °, по сравнению с техническим требованием 70,5 °. Фактический контур обработки включенного угла между двумя сторонами полностью соответствует идеальному контуру обработки. Точность размеров блока треугольной пирамиды в средней части заготовки выше, что может быть более устойчивым в центральной области.

3.3.3. Оценка соотношения площадей ретроотражения

Как показано на a, в шести элементах треугольной пирамиды в области выборки обнаруживаются шесть внутренних краев контраста; целостность формы кромок 1, 2 и 3 всегда лучше, чем у кромок 4, 5 и 6. Возможные причины анализируются следующим образом. При резке в направлении C1 резка является непрерывной, состояние резания стабильно, и шесть кромок больше не формируются. При резке в направлении C2 резка перестает быть непрерывной; скорее, он является прерывистым, образуя кромки 1 и 4, в которых кромка 4 формируется инструментом в вырезе, а кромка 1 образуется инструментом во врезке.При резании в направлении C3 формируются кромки 2, 3 и 5, 6, при этом кромки 5 и 6 образуются на режущей кромке инструмента, а кромки 2 и 3 образуются в точке резания инструмента. Так как край выреза может легко образовывать заусенец на выходе, кромки 1, 2 и 3 на врезке лучше, чем кромки 4, 5 и 6 выреза. Ширина выступа заусенца, образованного W _b на кромках 4, 5 и 6, является недопустимой оптической функциональной областью.

СЭМ (растровый электронный микроскоп) заусенцев и недействительной зоны: ( a ) Заусенцы кромок, ( b ) Измерение недействительной зоны текстурного блока.

В результате проведенного выше анализа было обнаружено, что у текстурного блока 6 кромок, а количество m кромок выходных заусенцев составляет всего 3. Ширина дуги впадины и ширина выступа заусенца измеряются. , как показано на b. Вычисляя его среднее арифметическое, результаты представлены в. Для текстурного блока k _s = 93,5% получается из определения отношения площадей ретроотражения. Благодаря выбору высокоточной системы обработки, а также анализу и оптимизации режущих инструментов и границ резания, полученная оригинальная пресс-форма удовлетворяет требованиям к световозвращению, предъявляемым к оптической функциональной текстуре треугольной пирамиды.

Таблица 4

Ширина дуги дна впадины и ширина выступа заусенцев.

(2) В сверхточной системе обработки принята технология низкоскоростного планирования формовки, чтобы избежать больших колебаний силы резания, вызванных изменением толщины резания, и можно повысить точность обработки мелкой структуры.

(3) Как независимое расположение единичной структуры на функциональной текстуре поверхности детали, единичная структура имеет прерывистую резку.На режущем конце каждой конструкции блока будут мелкие заусенцы. Влияние заусенцев на качество функциональной текстуры поверхности можно эффективно уменьшить за счет оптимизации режущего инструмента, режущего материала и параметров резки.

(4) Оптические свойства оптической функциональной текстуры могут быть оценены косвенно путем анализа распределения краевого заусенца и вычисления отношения площадей ретроотражения блока треугольной пирамидальной текстуры обработанной формы.

Благодарности

Авторы выражают благодарность Сингапурскому институту производственных технологий, оказавшему поддержку в проведении экспериментов.

Вклад авторов

Концептуализация, Z.X .; методология, Z.X .; формальный анализ, H.L. and J.P .; эксперименты, H.L .; курирование данных, F.Z .; письмо, H.L .; ревизия, Z.X. и J.P. Все авторы прочитали и согласились с опубликованной версией рукописи.

Финансирование

Работа поддержана Национальным фондом естественных наук Китая (грант №51676085).

Конфликт интересов

Авторы заявляют об отсутствии конфликта интересов. Финансирующие организации не играли никакой роли в разработке исследования; при сборе, анализе или интерпретации данных; в написании рукописи и в решении опубликовать результаты.

Ссылки

alexxlab